Журнал СФУ. Химия / Рентгенофлуоресцентное определение основных элементов хромовых руд в прессованных порошковых пробах

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Химия. 2023 16 (1)
Авторы
Финкельштейн, А. Л.; Сычева, В. И.; Чубаров, В. М.; Канева, Е. В.; Пеллинен, В. А.
Контактная информация
Финкельштейн, А. Л.: Институт геохимии им. А. П. Виноградова СО РАН Российская Федерация, Иркутск; Сычева, В. И.: Иркутский государственный университет Российская Федерация, Иркутск; Чубаров, В. М.: Институт геохимии им. А. П. Виноградова СО РАН Российская Федерация, Иркутск; Канева, Е. В.: Институт геохимии им. А. П. Виноградова СО РАН Российская Федерация, Иркутск; Пеллинен, В. А.: Институт земной коры СО РАН Российская Федерация, Иркутск
Ключевые слова
рентгенофлуоресцентный анализ; хромовые руды; пробоподготовка; X‑ray fluorescence analysis; chromite ore; sample preparation
Аннотация

Предложен способ рентгенофлуоресцентного определения основных элементов (Cr, Fe, Si, Al, Mg), а также Mn и Ti в порошковых пробах хромовых руд. Измерения проводили на волноводисперсионном рентгенофлуоресцентном спектрометре S 4 Pioneer (Bruker AXS). Подготовка проб включала дополнительное измельчение порошков калибровочных образцов и анализируемых проб, которое обеспечивало размер частиц порошка менее 50 мкм. Для измерения готовили таблетки прессованием порошков на подложке из борной кислоты. Дополнительное измельчение позволило уменьшить влияние гранулометрического состава порошков на погрешность определения главных полезных компонентов: хрома и железа. В качестве калибровочной функции использовали эмпирическое уравнение Лукаса-Туса, имеющееся в опциях программного обеспечения спектрометра. Отклонения результатов рентгенофлуоресцентного анализа от результатов химического анализа с фотометрическим или атомно-абсорбционным окончанием для четырех контрольных проб составили менее: 0.34 % мас. для Cr2O3 (в диапазоне 18–56 % мас.), 0.16 % мас. для Fe2O3 (в диапазоне 10–26 % мас.), 0.29 % мас. для Al2O3 (в диапазоне 5–20 % мас.), 0.013 % мас. для MnO (в диапазоне 0.1–0.2 % мас.), 0.03 % мас. для TiO2 (в диапазоне 0.09–0.67 % мас.). Для MgO (в диапазоне 14–32 % мас.) и SiO2 (в диапазоне 2–22 % мас.) погрешность определения может быть более 1 % мас., что превышает допустимую для количественного определения

Страницы
116–126
EDN
KIWWUK
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/149971