Журнал СФУ. Математика и физика / Муаровые узоры в графене на подложке Pt(111): компьютерное моделирование

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Математика и физика. Prepublication
Авторы
Белим, Сергей В.; Тихомиров, Илья В.
Контактная информация
Белим, Сергей В.: Омский государственный технический университет Омск, Российская Федерация; Тихомиров, Илья В. : Омский государственный технический университет Омск, Российская Федерация
Ключевые слова
graphene; surface potential; moire pattern; Lennard-Jones potential; графен; поверхностный потенциал; муаровый узор; потенциал Леннард-Джонса
Аннотация

Исследование деформаций монослойной пленки графена на Pt подложке выполнено методом компьютерного моделирования. Влияние подложки моделируется с помощью поверхностного потенциала. Атомы углерода в графене взаимодействуют между собой и с потенциалом подложки. Минимум потенциальной энергии определяет положение атомов углерода. Поиск равновесного положения атомов углерода выполняется с помощью метода Монте–Карло. Поперечные деформации графена являются энергетически выгодными из-за сильной связи между атомами углерода. Продольные деформации графена являются малыми. Модель использует потенциал Леннард–Джонса для вычисления потенциала подложки. Параметры потенциала вычисляются из равновесного состояния невозмущенной системы. Поверхностный потенциал вычисляется для одной элементарной ячейки и транслируется с помощью параллельного переноса на всю подложку. Взаимодействие между атомами углерода также описывается потенциалом Леннард-Джонса. Муаровые узоры в графене имеют сотовую сверхструктуру. Модель вычисляет зависимость периода муарового узора от угла между главными направлениями кристаллической решетки подложки и графена. Период муаровой сверхрешетки убывает при повороте пленки по нелинейному закону. Расчеты показывают наличие большого расстояния между подложкой и графеновой пленкой. Результаты моделирования находятся в хорошем согласии с экспериментальными данными

Страницы
435–445
EDN
ALQECJ
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/156159