Журнал СФУ. Химия / Эффект сильных электронных корреляций, определяющий стабильность и свойства Er-легированных кремниевых квантовых точек

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Химия. 2010 3 (1)
Авторы
Аврамов, П.В.; Кузубов, А.А.; Федоров, А.С.; Сержантова, М.В.; Кузик, В.Р.
Контактная информация
Аврамов, П.В. : Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН Сибирский федеральный университет , Россия 660036, Красноярск, Академгородок, 50 Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Кузубов, А.А. : Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН Сибирский федеральный университет Сибирский государственный технологический университет , Россия 660036, Красноярск, Академгородок, 50 Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79 Россия 660049, Красноярск, пр. Мира, 82; Федоров, А.С. : Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН , Россия 660036, Красноярск, Академгородок, 50; Сержантова, М.В. : Сибирский федеральный университет Сибирский государственный аэрокосмический университет , Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79 Россия 660014, Красноярск, пр. Красноярский рабочий, 31; Кузик, В.Р. : Сибирский федеральный университет , Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79 , e-mail:
Ключевые слова
теория функционала плотности (DFT); квантовые точки; Er/Si-кластеры; электронная структура; энергетическая стабильность; сильная электронная корреляция; DFT; Quantum Dots; Er/Si clusters; electronic structure; energetic stability; strong electron correlations
Аннотация

С помощью теории функционала плотности (DFT) в работе проводилось изучение электронной структуры кремниевых квантовых точек Голдберговского типа с центральными симметрическими пустотами и их эндоэдральными комплексами с эрбием. После оптимизации структуры с помощью DFT-метода был проведен расчет экспериментальных свойств Er-допированного нанокристаллического кремния. Кроме того, исследования позволили объяснить роль симметрии центральных пустот в квантовых точках и провести интерпретацию особенностей в плотностях состояний.

Страницы
12-19
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1753