Журнал СФУ. Техника и технологии / Точность контактного метода измерения текущей площади кристаллов, выращиваемых способом Чохральского

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Техника и технологии. 2016 9 (8)
Авторы
Саханский, С.П.
Контактная информация
Саханский, С.П.: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79
Ключевые слова
cultivation; crystals; contact measurement method; выращивание; кристаллы; контактный метод измерения
Аннотация

Для кристаллов, выращиваемых из жидкого расплава по способу Чохральского, при контроле текущей площади кристалла на основе контактного метода измерения определены требования для обеспечения точности измерения величиной 1 %

Страницы
1279-1290
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/30350

Лицензия Creative Commons Эта работа лицензируется по лицензии Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License (CC BY-NC 4.0).