Журнал СФУ. Математика и физика / Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Математика и физика. 2017 10 (1)
Авторы
Беляев, Борис А.; Изотов, Андрей В.; Соловьев, Платон Н.
Контактная информация
Беляев, Борис А.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россия; Изотов, Андрей В.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россия; Соловьев, Платон Н.: Институт инженерной физики и радиоэлектроники Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041; Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россия
Ключевые слова
micromagnetic simulation; thin magnetic film; nanocrystallites; random anisotropy model; микромагнитное моделирование; тонкая магнитная пленка; нанокристаллиты; модель случайной анизотропии
Аннотация

Методом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тон- ких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6–1000 нм исследованы зависимости параметров корреля- ционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиу- сов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности»

Страницы
132–135
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/30744