Журнал СФУ. Математика и физика / Оценка ширины запрещенной зоны в микрокристаллическом порошке m-HfO2

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Математика и физика. 2021 14 (2)
Авторы
Шилов, Артём О.; Савченко, Сергей С.; Вохминцев, Александр С.; Чукин, Андрей В.; Карабаналов, Максим С.; Власов, Максим И.; Вайнштейн, Илья А.
Контактная информация
Шилов, Артём О.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Савченко, Сергей С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Вохминцев, Александр С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Чукин, Андрей В.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Карабаналов, Максим С.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Власов, Максим И.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт высокотемпературной электрохимии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация; Вайнштейн, Илья А.: НОЦ НАНОТЕХ, Уральский федеральный университет Екатеринбург, Российская Федерация; Институт металлургии УрО РАН Екатеринбург, Российская Федерация
Ключевые слова
hafnium dioxide; diffuse reflectance; absorption edge; диоксид гафния; диффузное отражение; край поглощения
Аннотация

В работе изучены оптические свойства микрокристаллического порошка диоксида гафния. Методами рентгеновской дифракции и рамановской спектроскопии установлено, что исследуемые образцы обладают моноклинной кристаллической решёткой. На основе анализа спектров диффузного отражения и применения формализма Кубелки-Мунка выполнена оценка ширины непрямой запрещённой зоны Eg = 5.34 ± 0.05 эВ. Полученная величина согласуется с независимыми данными для пленок HfO2, синтезированных различными методами. Статья подготовлена по материалам доклада на Первой Всероссийской научной конференции с международным участием «ЕНИСЕЙСКАЯ ФОТОНИКА — 2020»

Страницы
224–229
DOI
10.17516/1997-1397-2021-14-2-226-231
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/137975