Журнал СФУ. Химия / Применение сканирующей электронной микроскопии в решении актуальных проблем материаловедения

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Химия. 2009 2 (4)
Авторы
Зеер, Г.М.; Фоменко, О.Ю.; Ледяева, О.Н.
Контактная информация
Зеер, Г.М. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79 , e-mail: ; Фоменко, О.Ю. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79; Ледяева, О.Н. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79
Ключевые слова
сканирующая электронная микроскопия; микроструктура; микрорентгеноспектральный анализ; scanning electron microscopy; microstructure; X-ray microanalysis
Аннотация

Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия.

Страницы
287-293
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1656