- Номер
- Журнал СФУ. Химия. 2009 2 (4)
- Авторы
- Зеер, Г.М.; Фоменко, О.Ю.; Ледяева, О.Н.
- Контактная информация
- Зеер, Г.М. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79 , e-mail: ; Фоменко, О.Ю. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79; Ледяева, О.Н. : Сибирский федеральный университет ; Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный,79
- Ключевые слова
- сканирующая электронная микроскопия; микроструктура; микрорентгеноспектральный анализ; scanning electron microscopy; microstructure; X-ray microanalysis
- Аннотация
Рассмотрены вопросы практического применения сканирующей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа для исследования материалов. Показаны возможности сканирующего электронного микроскопа JSM 7001F фирмы JEOL (Япония) с системой микроанализаторов фирмы Oxford Instruments (Великобритания) на примере диффузионных соединений разнородных материалов, серебряных электроконтактов и сплава на основе алюминия.
- Страницы
- 287-293
- Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
- https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1656
Журнал СФУ. Химия / Применение сканирующей электронной микроскопии в решении актуальных проблем материаловедения
Полный текст (.pdf)