Журнал СФУ. Химия / Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Химия. 2009 2 (4)
Авторы
Жарков, С.М.
Контактная информация
Жарков, С.М. : Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН Сибирский федеральный университет ; Россия 660036, Красноярск, Академгородок, 50 Россия 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79 , e-mail:
Ключевые слова
просвечивающая электронная микроскопия; дифракция электронов; рентгеноспектральный анализ; transmission electron microscopy; electron diffraction; X-ray spectrum analysis
Аннотация

На примере различных материалов: тонких пленок Al/Au, наночастиц Pd-Au, углеродных нанотрубок, фотонного кристалла показаны возможности современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании микроструктуры. Продемонстрировано применение методов высокоразрешающей и аналитической просвечивающей электронной микроскопии, а также дифракции электронов.

Страницы
294-306
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/1662