- Номер
- Журнал СФУ. Математика и физика. 2016 9 (4)
- Авторы
- Соловьев, Платон Н.; Изотов, Андрей В.; Беляев, Борис А.
- Контактная информация
- Соловьев, Платон Н.; Изотов, Андрей В.; Беляев, Борис А.
- Ключевые слова
- film growth simulation; hysteresis loops; micromagnetic simulation; oblique deposition; моделирование роста пленок; петли гистерезиса; микромагнитное моделирование; наклонное осаждение
- Аннотация
Методом микромагнитного моделирования исследованы процессы перемагничивания в тонких наклонно-осажденных пленках. Тонкопленочные структуры для микромагнитного анализа бы- ли получены с помощью программы моделирования роста пленок, основанной на методе Монте- Карло. Из петель гистерезиса, полученных для сгенерированных пленок, были определены зависи- мости коэрцитивной силы и остаточной намагниченности от угла осаждения . Результаты исследований показали, что для пленок с < 65 ◦ перемагничивание осуществляется посредством когерентного вращения магнитных моментов, тогда как для образцов полученных при больших углах осаждения перемагничивание осуществляется через формирование сложных квазидомен- ных магнитных структур. Результаты моделирования хорошо согласуются с ранее опублико- ванными данными экспериментальных измерений
- Страницы
- 524–527
- Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
- https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/30000
Журнал СФУ. Математика и физика / Микромагнитное моделирование процессов перемагничивания в тонких наклонноосажденных пленках
Полный текст (.pdf)