Журнал СФУ. Математика и физика / Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Математика и физика. 2017 10 (2)
Авторы
Максимова, Ольга А.; Овчинников, Сергей Г.; Косырев, Николай Н.; Лященко, Сергей А.
Контактная информация
Максимова, Ольга А.: Институт физики им. Л. В. Киренского, КНЦ СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041 Россия; Овчинников, Сергей Г.: Институт физики им. Л. В. Киренского, КНЦ СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Сибирский федеральный университет Свободный, 79, Красноярск, 660041 Россия; Косырев, Николай Н.: Институт физики им. Л. В. Киренского, КНЦ СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 Россия; Лященко, Сергей А.: Институт физики им. Л. В. Киренского, КНЦ СО РАН Академгородок, 50/38, Красноярск, 660036 СибГАУ им. Академика М. Ф.Решетнева Красноярский рабочий, 31, Красноярск, 660037 Россия
Ключевые слова
Magneto-optical ellipsometry; Kerr effect; two-layer model; ferromagnetic metal; reflection; growth control; магнито-оптическая эллипсометрия; эффект Керра; двухслойная модель; ферромагнетик; отражение; контроль роста
Аннотация

Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматрива- ется двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах

Страницы
223–232
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/31548