Журнал СФУ. Техника и технологии / Причины технологических нарушений при анодных процессах. Обзор исследований российских и зарубежных экспериментаторов

Полный текст (.pdf)
Номер
Журнал СФУ. Техника и технологии. 2017 10 (5)
Авторы
Михалев, Ю.Г.; Поляков, П.В.; Ясинский, А.С.; Шахрай, С.Г; Безруких, А.И.; Завадяк, А.В.
Контактная информация
Михалев, Ю.Г.: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Поляков, П.В.: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Ясинский, А.С.: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Шахрай, С.Г: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Безруких, А.И.: Сибирский федеральный университет Россия, 660041, Красноярск, пр. Свободный, 79; Завадяк, А.В.: ООО «РУСАЛ ИТЦ» Россия, 660111, Красноярск, ул. Пограничников, 37/
Ключевые слова
анод; нарушение; конус; угольная пена; выход по току; электролит; anode; malfunction; spike; carbon dust; current efficiency; bath
Аннотация

Одним из наиболее типичных видов технологических расстройств в анодах после их установки в электролизер является неравномерное изменение рельефа подошвы анода и образование на ней выступов, называемых в зарубежной технической литературе шипами, грибами, деформациями, в российской – конусами. Конусы могут вызвать короткое замыкание анода и катода, увеличить флуктуации тока, выход угольной пены, уровень шумов. Другой вид технологических расстройств в анодах – образование в них трещин вследствие теплового удара (термошока), который испытывает холодный анод при установке в расплав. Образовавшиеся в результате растрескивания куски анода попадают в электролит, нарушая технологический режим электролизера, увеличивая расход углерода и существенно осложняя обслуживание электролизера. Одна из основных опасностей образования конусов и растрескивания анода – значительное снижение выхода по току и технико-экономических показателей производства алюминия. В настоящей статье представлен обзор исследований российских и зарубежных экспериментаторов, посвященных изучению причин технологических расстройств в анодах

Страницы
593-606
Статья в архиве электронных ресурсов СФУ
https://elib.sfu-kras.ru/handle/2311/33852

Лицензия Creative Commons Эта работа лицензируется по лицензии Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License (CC BY-NC 4.0).